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文章详情

LCR阻抗测试仪的技术背景描述

日期:2022-01-12 02:53
浏览次数:888
摘要:
    LCR阻抗测试仪采用的方法有自动平衡电桥法、矢量网络分析法、I-V法。电桥法测量精度高,但需要手动平衡调节,其标准电阻需要手动换挡,测量反复调节、测量时间长,因而相应出现了自动平衡电桥法,其适用于宽频率、宽阻抗范围测量,但却不适应于高频测量,其测量频率范围为20—110MHz,测量频率低,对于100MHz至3GHz的测量,射频I-V法有较好的测量的能力,对于3GHz及更高的频率,则较多采用网络分析法。

    应用网络分析法的矢量网络分析仪通过测量反射系数Γx根据公式Γx=(Zx-Zo)/(Zx+Zo)求阻抗Zx(Zo一般为50欧姆),如反射系数Γx随阻抗变化的曲线,由可知Γx随测量阻抗变化是非线性关系,当测量阻抗接近50欧姆时线性*好,当测量阻抗远离50欧姆时线性度变差,此时当阻抗值变化很大时,反射系数可能变化很小,影响测量精度。因此矢量网络分析仪只能对接近其自身特性阻抗(通常50欧姆)的阻抗进行**测量,存在测量误差大、测量阻抗范围较窄的缺点。因此提供的LCR阻抗测试仪解决了上述问题。

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